Out For Tender

Out For Tender › Denemarken › Laboratoriuminstrumenten, optische en precisie-instrumenten (uitgezonderd brillen)

The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source

Aanbestedende dienst
Danmarks Tekniske Universitet - DTU
Land
Denemarken
Categorie
Laboratoriuminstrumenten, optische en precisie-instrumenten (uitgezonderd brillen)
Sluitingsdatum
Sluit over 21 dagen (16 Nov 2026 07:00 UTC+0)
Gepubliceerd
15 Oct 2026
Procedure
Open
CPV-code
38511100

Lees de officiële aankondiging en schrijf in → Inschrijven gebeurt altijd op het portaal van de aanbestedende dienst, nooit hier.

Wat de aanbestedende dienst vraagt

DTU requires the supply, delivery, installation, commissioning and acceptance of one (1) focused ion beam scanning electron microscope (FIB-SEM) dual-beam platform. The instrument shall serve a multi-user research environment and will be used for high-resolution surface imaging, site-specific cross-sectioning, TEM lamella preparation (including automated workflows), 3D FIB-SEM tomography, gas-assisted deposition and etching, nanoscale manipulation, and elemental microanalysis by energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS) and ToF-SIMS.

Taal van deze aankondiging: English. Titel en beschrijving tonen we precies zoals de aanbestedende dienst ze heeft gepubliceerd.

Source: TED · reference 713490-2026 · JSON